J-Ras离子迁移试验装置 1000V 2000V 3000V
设备简介:
HVUα-1000/2000/3000试验装置是J-RAS公司开发的一种高
电压的离子迁移试验设备,较高电压可达到4000V,广泛应用于
新能源、汽车电子、5G通讯等产品可靠性。
性能优势:
1.具备高、低电压测试自动切换功能,电压稳定,精度高(±〔0.3%(F.S.)+0.5〕V
(计测偏压精度))
2.各通道可以独立设定不同电压
3.每个通道均有电流过载保护,可保护设备及测试样品
4.模组化设计,轻便,占地小,易维护
5.TRIAXIAL三重隔离线设计,可有效屏蔽干扰信号
Specitications规格参数 | ||||
硬体项目 | 规格·性能·其他 | |||
HVUα-1000 | HVUα-2000 | HVUα-3000 | ||
框 | 通道 | 5-50通道 | ||
筐体寸法 | 410mm(W)×480mm(H)×324mm(D)(突起部除外) | |||
重量 | 23KG(50通道) | |||
性 | 电压范围 | 50-1000V | 50-2000V | 100-3000V |
较大输出电流 | About 1.4mA/CH | About 600μA/CH | About 400μA/CH | |
电压设定格式 | 1V为单位 | |||
计测输入电压范围 | 50-1000V | 50-2000V | 100-3000V | |
计测电流范围 | 140nA/14uA/1.4mA | 60nA/6uA/600mA | 40nA/4uA/400mA | |
计测电阻范围 | 36kΩ~7.2TΩ | 83kΩ~33TΩ | 250kΩ~75TΩ | |
输出电压格式 | 5通道独立显示电压,单独控制开/关 | |||
软体 | 计测电阻范围 | 2.5K-75TΩ(较高4PΩ)/较大通道数 200通道(50CH通道一组,共4组) | ||
扫描速度 | 较大 50msec/通道 | |||
测试时间 | 1min-10000H | |||
数据收录间隔 | 1-60min(可以任意1min为定期) |